シュテルホルン 研究室
About the lab
材料やデバイスがどのように機能しているのかを理解するためには、その構造を根本的なレベルで理解することが重要です。当研究室では、機能性材料の原子分解能での構造解析を専門としており、材料の性能を決定する複雑な構造と特性の関係を明らかにすることに焦点を当てています。X線回折や分光法といった高度な量子ビーム技術を活用して、局所的な原子構造を探ることで、これらの材料がどのように動作するのかについて詳細な洞察を得ることができます。正確な原子レベルの解析を通じて、構造と機能のギャップを埋め、材料科学と技術の革新を提供することを目指しています。
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Naohisa Happo, Atsushi Kubota, Xiaofan Yang, Ritsuko Eguchi, Hidenori Goto, Mitsuki Ikeda, Koji Kimura, Yasuhiro Takabayashi, Jens R. Stellhorn, Shinjiro Hayakawa, Koichi Hayashi, Yoshihiro Kubozono, “Nanophase Separation in K1–xCaxC8 Revealed by X-ray Fluorescence Holography and Extended X-ray Absorption Fine Structure”, Chem. Mater., 36, (2024), 4143, 10.1021/acs.chemmater.3c02832
J. R. Stellhorn, B. Paulus, B. D. Klee, M. Inui, H. Taniguchi, Y. Sutou, S. Hosokawa, W.-C. Pilgrim, Structural origins of the unusual thermal stability of amorphous CuxGe50-xTe50 (0 ≤ x ≤ 33.3), J. Phys.: Condens. Matter, 35, (2023), 304004, 10.1088/1361-648X/acce13
J. R. Stellhorn, S. Hayakawa, B. D. Klee, B. Paulus, J. Link Vasco, N. Rinn, I. Rojas León, C. A. Hosier, S. Dehnen, W.-C. Pilgrim, “Local Cluster Distortions in Amorphous Organotin Sulfide Compounds and their Influence on the Non-Linear Optical Properties”, Adv. Optical Mater., 11, (2023), 2201932, 10.1002/adom.202201932
J. R. Stellhorn, B. Paulus, S. Hosokawa, W.-C. Pilgrim, N. Boudet, N. Blanc, H. Ikemoto, S. Kohara, Y. Sutou, “Structure of amorphous Cu2GeTe3 and the implications for its phase-change properties”, Phys. Rev. B, 101, (2020), 214110, 10.1103/PhysRevB.101.214110
J. R. Stellhorn, S. Hosokawa, N. Happo, H. Tajiri, T. Matsushita, K. Kaminaga, T. Fukumura, T. Hasegawa, K. Hayashi, “A valence-selective X-ray fluorescence holography study of an yttrium oxide thin film”, J. Appl. Cryst., 50, (2017), 1583-1589, 10.1107/S1600576717012821
S. Hosokawa, J. R. Stellhorn, T. Matsushita, N. Happo, K. Kimura, K. Hayashi, Y. Ebisu, T. Ozaki, H. Ikemoto, H. Setoyama, T. Okajima, Y. Yoda, H. Ishii, Y. Liao, M. Kitaura, and M. Sasaki, “Impurity positions and lattice distortions in a Mn doped Bi2Te3 topological insulator investigated by x-ray fluorescence holography and x-ray absorption fine structure”, Phys Rev. B., 96, (2017), 214207, 10.1103/PhysRevB.96.214207